인문대와 공대 사이

NAND Copyback Command 란 무엇인가

2025년 03월 31일

NAND 구조를 자세히 들여다보면, Copyback Command(카피백 명령) 같은 특별한 기능들이 존재합니다. 보통 우리가 생각하는 “데이터를 읽어서 -> 수정(또는 바로) -> 다른 페이지에 쓴다”라는 과정을 단순화하여, 내부적으로 빠르고 효율적으로 데이터를 복사해주는 기능이 바로 NAND Copyback입니다.

NAND Bad Block 이 발생하는 이유

2025년 03월 31일

NAND 플래시 메모리는 데이터를 저장하는 작은 셀(셀들의 집합을 블록이라 부름)들로 구성되어 있습니다. 그런데 이 블록들 중에는 처음부터 불량인 경우(공장 출고 시 결함)도 있고, 사용하다 보면 여러 이유로 망가지는 블록들도 생깁니다. 이러한 “망가진” 블록을 가리켜 “Bad Block(배드 블록)”이라고 부르는 것이죠.

NAND Timing Mode와 Timing Parameter 이해

2025년 03월 18일

NAND 플래시에서 말하는 “Timing Mode”는, 쉽게 말해서 NAND가 데이터를 주고받는 속도나 신호 타이밍 조건(읽기·쓰기 동작 시 필요한 시간적 여유)을 정해놓은 모드라고 볼 수 있어요. 각각의 NAND Timing Mode(예: Mode 1, Mode 2, Mode 3)는 더 빠른 속도로 데이터를 전송하거나 더 짧은 시간에 반응하기 위해, 정해져 있는 ‘타이밍 파라미터’들이 다릅니다.

NAND ONFI 란 무엇인가 (Open NAND Flash Interface)

2025년 02월 17일

NAND 플래시 메모리를 다루다 보면 “ONFI”라는 용어를 종종 접하게 됩니다. NAND ONFI는 “Open NAND Flash Interface”의 줄임말로, 쉽게 말해 여러 제조사의 NAND 플래시가 호환되도록 인터페이스를 표준화한 규격을 의미합니다.

SER 시험의 불량 유형 및 메커니즘

2025년 02월 17일

반도체에서 방사선(알파입자, 중성자 등)에 의해 발생하는 Soft Error를 측정하는 SER 시험 (Soft Error Rate) 에서, 일반적으로 많이 언급되는 불량 유형은 크게 SBU(Single Bit Upset)와 MCU(Multi Cell Upset)입니다. 하지만 이외에도 좀 더 넓은 범위에서 보면 여러 종류의 ‘Single Event’(하나의 방사선 입자 충돌로 발생하는 단발성 현상) 불량이 존재합니다.

Corrective Action과 Preventive Action 차이

2025년 01월 23일

Corrective Action과 Preventive Action의 정의, 적용 사례, 그리고 두 개념 간의 차이에 대해 깊이 있는 설명을 통해 조직이 문제를 해결하고, 앞으로의 리스크를 줄이며, 프로세스를 지속적으로 개선하기 위해 사용하는 기본적인 도구라는 것을 알 수 있습니다.

PDCA 사이클: 지속적 개선 도구

2025년 01월 21일

조직의 성과를 지속적으로 개선하고 싶다면 품질경영과 공정관리에서 필수적인 도구로 꼽히는 PDCA 사이클을 통해 그 해답을 찾아볼 수 있습니다. PDCA(Plan-Do-Check-Act)는 문제를 체계적으로 해결하고, 끊임없이 발전할 수 있도록 돕는 강력한 프레임워크입니다.

AQL 의미와 AQL 표 보는 방법 (Acceptable Quality Level)

2025년 01월 18일

공정관리와 품질관리의 세계에서는 생산된 제품이 소비자의 요구를 만족시키는 품질을 보장하기 위해 다양한 기준과 도구를 활용합니다. 그중에서도 AQL(Acceptable Quality Level, 허용 품질 수준)은 많은 사람들이 어려워하는 개념 중 하나입니다. 이번 글에서는 AQL이 무엇인지, 왜 중요한지, 그리고 대표적인 AQL 표를 통해 이를 어떻게 적용하는지를 쉽게 풀어 설명해보겠습니다.