RoHS 규제: 역사와 주요 내용 (RoHS 1 부터 RoHS 3 까지)

RoHS(Restriction of Hazardous Substances)는 특정 유해 물질의 사용을 제한하는 환경 규제입니다. 전자 및 전기 장비에 사용되는 유해 화학물질이 환경과 인체에 미치는 악영향을 줄이기 위해 도입된 규제로, 주로 납, 수은, 카드뮴 등의 유해 물질이 포함된 제품을 규제합니다.
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California Proposition 65 의 역사와 영향

캘리포니아 주민발의안 65 (California Proposition 65), 공식적으로 "유해물질로부터 안전한 음용수 및 독성물질에 대한 주의 법안"으로 알려진 이 법안은 1986년 11월 캘리포니아 주 유권자들에 의해 통과되었습니다.
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IMDS 작성 가이드: 재료 정보 입력과 세부 원칙

IMDS는 자동차 산업에서 사용되는 재료 데이터 관리 시스템입니다. 이 시스템은 자동차 제조사와 부품 공급업체가 제품에 사용된 재료의 정보를 체계적으로 관리하고 공유할 수 있도록 개발되었습니다. IMDS는 특히 유럽 연합의 ELV 지침을 포함한 다양한 환경 규제를 준수하기 위해 필요합니다.
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무어의 법칙: 반도체 기술의 혁신을 이끄는 2배의 법칙

1965년 인텔(Intel)의 공동 창립자인 고든 무어(Gordon Moore)가 처음 제안한 무어의 법칙은 지난 수십 년 동안 반도체 기술의 발전과 혁신을 예측하는 중요한 지표로 사용되었습니다.
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반도체 역사: 최초의 발명부터 현재까지

반도체 역사는 19세기 후반으로 거슬러 올라갑니다. 1833년, 영국의 과학자 마이클 패러데이(Michael Faraday)는 은화(Silver Sulfide)라는 물질이 온도에 따라 전기 전도도가 달라지는 특성을 발견했습니다.
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FIB & SEM & TEM : 반도체 정밀 분석 핵심 3가지

FIB 를 활용하여 훨씬 높은 해상도의 물체를 관찰할 수 있는데 그 중에서도 SEM(Scanning Electron Microscope)과 TEM(Transmission Electron Microscope)은 가장 널리 사용되는 두 가지 유형의 전자현미경입니다.
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비파괴 검사 4가지 : Visual, SAT, X-ray, IV Curve

비파괴 검사란, 반도체의 내부 구조나 외부 결함을 검사하는 과정에서 제품을 손상시키지 않는 방법을 의미합니다. 비파괴 검사 기법에는 Visual Inspection(시각 검사), SAT(Scanning Acoustic Tomography, 스캐닝 음향 토모그래피), X-ray(엑스레이) , IV Curve 분석이 있습니다.
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8D Report (보고서) 활용 및 주요 2가지 도구

8D Report는 8개의 단계(Disciplines)로 구성되며, 각 단계는 문제를 철저히 이해하고, 원인을 분석하며, 효과적인 해결책을 도출하고, 이 해결책이 지속 가능하도록 보장하는 데 초점을 맞추고 있습니다.
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반도체 SER (Soft Error Rate) 핵심 정리 5가지

Soft Error는 반도체 소자에서 물리적인 손상 없이 데이터의 비정상적인 변화가 발생하는 현상입니다. SER(Soft Error Rate)은 이러한 소프트 에러가 발생하는 빈도를 측정하는 지표로, 반도체 소자의 신뢰성을 평가하는 중요한 척도입니다.
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반도체 Fabless 회사의 미래 전망 3가지

Fabless 회사는 반도체 설계에 집중하고, 제조는 외부 파운드리에 맡기는 비즈니스 모델을 채택한 기업들을 의미합니다. Fabless 반도체 회사들은 자본 효율성, 집중과 전문성, 유연성과 민첩성, 글로벌 협력과 파트너십, 리스크 관리 등 다양한 장점을 가지고 있습니다.
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