반도체 리페어, 예비 셀과 레이저 퓨즈로 칩을 살리는 원리

반도체 리페어로 불량 셀을 예비 셀로 대체하는 원리를 설명하는 배너
반도체 리페어. 예비 행과 열로 불량 셀을 대체하는 원리와 리던던시 분석, 레이저 퓨즈와 전기 퓨즈, 안티퓨즈, 패키지 후 리페어를 정리합니다.
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EDS 테스트, 웨이퍼 위에서 양품 칩을 가려내는 과정

EDS 테스트로 웨이퍼 위의 칩을 선별하는 과정을 설명하는 배너
EDS 테스트의 목적과 과정을 접촉 확인, 전기적 특성 검사, 고온·저온 기능 검사, 리페어, 웨이퍼 맵 기록 순서로 정리합니다.
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