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반도체 신뢰성 : ELFR (Early Life Failure Rate) 의 이해
2024년 07월 22일
초기 고장은 일반적으로 제조 과정에서 발생한 결함이나 초기 사용 중에 발생하는 문제로 인해 발생합니다. ELFR 시험은 이러한 초기 고장을 조기에 발견하고, 제품의 품질을 보장하기 위해 중요한 시험입니다.
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