HTOL 시험은 반도체 제품을 높은 온도에서 오랜 시간 동안 작동시켜 제품의 열화 및 고장 모드를 평가하는 시험입니다. 이 시험의 목적은 제품이 실제 사용 환경에서 겪게 될 수 있는 열적 스트레스를 가속 조건하에서 재현하여, 반도체의 수명과 신뢰성을 예측하는 것입니다.