PE Cycling이 반복되면서 NAND 셀의 산화막에 손상이 누적됩니다. 이는 셀의 물리적 구조가 점차 열화되며, 결국 셀의 전기적 특성이 변하게 됩니다. 이러한 변화는 데이터 읽기/쓰기 성능 저하뿐만 아니라 데이터 보존 능력에도 영향을 미칩니다.