TC (Temperature Cycling) 시험은 반도체 제품이나 전자 부품의 내열성을 평가하기 위한 신뢰성 시험입니다. 이 시험은 반도체가 극한의 온도 변화에 어떻게 반응하는지 확인하는 데 중점을 둡니다.