DPPM, 백만 개 중 불량 수로 읽는 출하 품질
DPPM의 정의와 계산식, 수율과의 차이, 테스트를 빠져나간 불량이 숫자가 되는 경로, 응용 분야에 따라 달라지는 목표 수준을 예시로 정리합니다.
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반도체 테스트 트러블슈팅, 현장에서 자주 겪는 문제와 해결
반도체 테스트 트러블슈팅. 접촉 불량, 테스터 간 상관성, 흔들리는 측정값, 고객 반품까지 현장 사례로 칩과 테스트의 문제를 가르는 법을 정리합니다.
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SLT 테스트, 시스템 레벨 테스트가 늘어나는 이유
SLT 테스트. 칩을 실제 시스템처럼 부팅해 장비 테스트가 놓친 불량을 잡는 원리와, 복잡한 SoC와 칩렛 시대에 적용이 늘어나는 이유를 정리합니다.
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