SLT 테스트, 시스템 레벨 테스트가 늘어나는 이유
SLT 테스트. 칩을 실제 시스템처럼 부팅해 장비 테스트가 놓친 불량을 잡는 원리와, 복잡한 SoC와 칩렛 시대에 적용이 늘어나는 이유를 정리합니다.
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반도체 테스트 비용, 병렬 테스트와 시간 단축 전략
반도체 테스트 비용을 정하는 장비 시간과 사이트 수를 짚고, 병렬 테스트와 테스트 시간 단축 전략, 품질과의 균형까지 정리합니다.
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DC AC Functional 테스트, 세 검사가 잡는 불량
DC AC Functional 테스트. 전압·전류를 재는 DC, 시간을 재는 AC, 동작을 확인하는 Functional 테스트의 차이를 정리합니다.
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